冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱是在人工模擬忽冷忽熱的氣候環(huán)境下測(cè)試其所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

標(biāo)準(zhǔn)尺寸選擇可參考如下，（另外：非標(biāo)尺寸柳沁可根據(jù)客戶要求定做生產(chǎn)）：

LQ-TS-50     內(nèi)箱尺寸：350×350×400    外箱尺寸：1560×1750×1440

LQ-TS-100    內(nèi)箱尺寸：600×400×400    外箱尺寸：1800×1800×1440

LQ-TS-150    內(nèi)箱尺寸：600×500×500    外箱尺寸：1800×1900×1540

LQ-TS-250    內(nèi)箱尺寸：700×600×600    外箱尺寸：1900×2000×1640

LQ-TS-480    內(nèi)箱尺寸：800×800×750    外箱尺寸：2020×2250×2150

以上尺寸均可搭配三個(gè)溫度范圍：（A：-40~150℃）；（B：-55~150℃）；（D：-65~150℃）

測(cè)控系統(tǒng)：

1.控制器：日本OYO9226S觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊

2.運(yùn)行方式：程序方式

     ﹙1﹚控制對(duì)象  試驗(yàn)區(qū)曝露溫度

                     高溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度

                     低溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度

                     低溫恒溫區(qū)除霜溫度

     ﹙2﹚指示精度  0.1℃

     ﹙3﹚輸    入  熱電偶  TDIN

     ﹙4﹚控制方式  微電腦PID+SSR控制

3.設(shè)定方式：中文菜單，觸摸屏方式輸入。

4.程序容量：100組程式，每個(gè)程序最大3步；每個(gè)程序可設(shè)1000次循環(huán)，最大循環(huán)設(shè)定9999cycles;

5.設(shè)定范圍：預(yù)熱預(yù)冷箱區(qū)

高溫室預(yù)熱溫度上限：+205℃；

低溫室預(yù)冷溫度下限：-80℃；

試驗(yàn)室﹙試樣區(qū)﹚

溫度沖擊上限：+150℃；

溫度沖擊下限：-65℃

6.顯示分辨率：溫度：0.1℃      時(shí)間：0.1min;

7.通訊功能：RS-232接口及USB接口，具有本地和遠(yuǎn)程通訊功能；

8.控制方式：抗積分飽和PID，模糊算法；BTC平衡調(diào)溫控制方式；

9.附屬功能：處理提示功能、故障報(bào)警及原因、超溫保護(hù)、故障記錄、上下限溫度保護(hù)、斷電保護(hù)、試驗(yàn)暫停、傳感器上下風(fēng)選擇、報(bào)警輸出、時(shí)間信號(hào)輸出，試驗(yàn)結(jié)束輸出、溫度到達(dá)輸出、定時(shí)啟動(dòng)及自動(dòng)停止功能、自診斷功能；

材質(zhì)：

外箱材料： SUS304#不銹鋼或A3雙面鍍鋅鋼板烤漆；

內(nèi)箱材料：不銹鋼板SUS＃304；

門(mén)保溫材料: 硬質(zhì)聚氨酯泡沫

箱體保溫材料:硬質(zhì)聚氨酯泡沫+玻璃纖維；

空氣調(diào)節(jié)通道:風(fēng)機(jī)、加熱器、蒸發(fā)器、風(fēng)門(mén)、溫度傳感器；

標(biāo)準(zhǔn)配置：樣品隔層架2個(gè)、調(diào)整腳4個(gè).

引線孔：在箱體的左側(cè)面開(kāi)設(shè) 1 個(gè)引線孔（Ф50mm）用于測(cè)試電源和測(cè)試信號(hào)線引入，帶有測(cè)試孔密封蓋；冷熱沖擊試驗(yàn)箱50

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的空氣開(kāi)關(guān)器（防止過(guò)流和短路）；

風(fēng)機(jī)過(guò)熱保護(hù)（保護(hù)送風(fēng)機(jī)，防止風(fēng)機(jī)溫度過(guò)高）；

壓縮機(jī)超壓，過(guò)熱、過(guò)流保護(hù)（保護(hù)壓縮機(jī)，防止壓力，溫度，電流過(guò)高）；

超溫保護(hù)（防止試驗(yàn)室溫度過(guò)高，保護(hù)試品）；

空調(diào)室局部溫度保護(hù)（防止加熱部周圍溫度過(guò)高，保護(hù)試驗(yàn)室殼體）；

溫度熔斷絲干燒保護(hù)器（防止鍋爐缺水空燒）；

保險(xiǎn)絲（防止控制回路和照明回路短路）；

箱體壓力保護(hù)（防止箱內(nèi)壓力過(guò)高造成試驗(yàn)室本體損壞）